我司设计的屏蔽式谐振腔(Shielded resonator)适用于微波介质介电常数及切向损耗测试，由铜(表面镀金)构成的高精度柱状腔体构成，通过模式和耦合的调节，精准测试介质的介电常数和切向损耗。对比非谐振法，该方式具有更高的精度和灵敏度，适用于低损耗材料的测试。

材料电磁特性的精确测量，在材料研发、微波传输、微波处理等领域，具有非常重要的意义。同时，环波科技深知材料表现出来的电磁特性与温度息息相关，故我们在高温下的材料介电性能测量方案做出很多努力，形成了系统的、可宽温度范围测试的材料介电性能测试方案。

产品详情：

产品特点：

• 镀金工艺，低损耗配置；
• 精细化设计，保证更高切向损耗测试精度；
• 测试频点定制化，可选择测试频点进行定制；
• 精准测试，配置样品定位夹具，排除偏移干扰；
• 样品高度可调节，适用性强；
• 配置传输线支架，测试更牢靠；
• 选配温度模块，配置温漂系数测试；
• 选配软件，测试更快速精准。

可测量参数：

• S参数
• 介电常数
• 介电损耗
• 温漂系数

测试方案：