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环波科技推出微波谐振腔及谐振腔法测试服务,助力新型通信材料和器件的研发。
我司设计的开放式谐振腔(Courtney resonator)适用于微波介质介电常数及切向损耗测试,由上下两块圆柱形铜板(表面镀金)构成,通过模式和耦合的调节,精准测试介质的介电常数和切向损耗。微波谐振腔具有损耗小、Q值高、结构坚固和使用安全等优点,在微波系统中得到广泛的应用。
环波科技致力于微波测量方案设计与优化,形成了具有系统的宽温度范围的材料介电性能测试方案。
产品详情:
产品特点:
低损耗:镀金工艺,低损耗配置,保证更高切向损耗测试精度
结构坚固:框架一体化设计,排除设备扰动误差
便捷快速:操作简单,选配测试软件,测试更加准确快速
宽温带测试:选配温度模块,配置温漂系数测试
可测量参数:
- S参数
- 介电常数
- 介电损耗
- 温漂系数
可测量范围:
- 频率:2.0Hz - 30 GHz
- 介电常数:5 - 100
- 介电损耗:1×10-4 - 6×10-3
测试方案:
联系信息
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