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环波科技推出微波谐振腔及谐振腔法测试服务,助力新型通信材料和器件的研发。

 

我司设计的开放式谐振腔(Courtney resonator)适用于微波介质介电常数及切向损耗测试,由上下两块圆柱形铜板(表面镀金)构成,通过模式和耦合的调节,精准测试介质的介电常数和切向损耗。微波谐振腔具有损耗小、Q值高、结构坚固和使用安全等优点,在微波系统中得到广泛的应用。

环波科技致力于微波测量方案设计与优化,形成了具有系统的宽温度范围的材料介电性能测试方案。

 

产品详情:

 

 

产品特点:

低损耗:镀金工艺,低损耗配置,保证更高切向损耗测试精度

结构坚固:框架一体化设计,排除设备扰动误差

便捷快速:操作简单,选配测试软件,测试更加准确快速

宽温带测试:选配温度模块,配置温漂系数测试

 

可测量参数:

  • S参数
  • 介电常数
  • 介电损耗
  • 温漂系数

 

可测量范围:

  • 频率:2.0Hz - 30 GHz
  • 介电常数:5 - 100
  • 介电损耗:1×10-4  -  6×10-3

 

测试方案: